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CdS-TiO2 复合半导体的 XPS 谱图分析

做 CdS-TiO2 复合半导体的XPS测试,得到如图的结果:
Cd 和 S 的结合能都减小,Ti 和 O 的结合能都增加,知道是有电子从 TiO2 转移到 CdS 上面,此处的电子指的是价电子吗?
因为XPS是通过测内层电子的结合能,来描述该电子化学环境的变化,而化学环境指的是原子核与其它层的电子。

你的 CdS 有问题,样品可能不纯:Cd 完全对称,说明其可能为一种物质,即 CdS,而 S 峰却不对称,及时两峰一个是 S2P3,一个是 S2P1,但是 S2P3 和 2P1 的高度基本相等,还是说明 S 有两种形态。而和 P25 结合后,Cd 峰不对称,说明由于电子的转移,可能有了新物质的生成。

你的样品没有刻蚀,表面有很大吸附 O,所以比较 O 没有意义,根本无法说明其有偏移。建议你首先检查 CdS 样品,看 XPS 谱图上是否有其他的杂质。其次 Cd 和 S 要分峰。