亲,请登录
消息
我的订单
会员中心
常见问题
意见反馈
服务商入口
搜索
提交需求
全部仪器分类
结构组成
色谱
质谱
波谱
光谱
X射线仪器
成分含量
元素分析
水分测定
水质分析仪
组织形貌
光学显微镜
电子显微镜
表面测量仪器
物理性能
电化学仪器
粒度/颗粒/粉末分析仪器
流变/粘度类
表界面物性测试
试验机
物理性能测试
射线检测
味觉分析
热学性能
燃烧测定仪
热分析仪器
生命科学
分子生物学仪器
细胞生物学仪器
生化分离分析
生物显微镜
材料加工
辐射测量仪器
电子工艺实验设备
激光器
首页
检测项目列表
邀请好友
预存送京东卡
常见问题
会员中心
客服电话:021-38228756
测试100
>
数据分析
>
CdS-TiO2 复合半导体的 XPS 谱图分析
CdS-TiO2 复合半导体的 XPS 谱图分析
2019-03-28 来源:网络
关键字:数据解析 XPS XPS测试 谱图分析
问
做 CdS-TiO2 复合半导体的XPS测试,得到如图的结果:
Cd 和 S 的结合能都减小,Ti 和 O 的结合能都增加,知道是有电子从 TiO2 转移到 CdS 上面,此处的电子指的是价电子吗?
因为XPS是通过测内层电子的结合能,来描述该电子化学环境的变化,而化学环境指的是原子核与其它层的电子。
答
你的 CdS 有问题,样品可能不纯:Cd 完全对称,说明其可能为一种物质,即 CdS,而 S 峰却不对称,及时两峰一个是 S2P3,一个是 S2P1,但是 S2P3 和 2P1 的高度基本相等,还是说明 S 有两种形态。而和 P25 结合后,Cd 峰不对称,说明由于电子的转移,可能有了新物质的生成。
你的样品没有刻蚀,表面有很大吸附 O,所以比较 O 没有意义,根本无法说明其有偏移。建议你首先检查 CdS 样品,看 XPS 谱图上是否有其他的杂质。其次 Cd 和 S 要分峰。
相关仪器
热门文章
暂无数据
相关文章
主编对 XPS 表征的质疑
包覆效果如何检测
每个元素的 XPS 峰半峰宽是固定的吗?
无机物怎么鉴定是什么物质
XRF、EDS、XPS、ICP 有什么区别?
HRTEM 用晶格面间距算角度与 XRD 的具体晶面对照
XRD 的特征峰什么时候会重合在一起?
CdS-TiO2 复合半导体的 XPS 谱图分析
XRD 钴靶和铜靶的数据能不能转换?
相关仪器排行
X射线能谱仪
XPS