大家好！我现在有一个固体材料想用质谱表征一下，固体材料是天然的丝状物，并且上面修饰了纳米材料，但是我又不能将样品溶解后做质谱，因为溶解后纳米材料的性质就变化了。急需大家的帮助！谢谢！

3个选择：
1、二次粒子（SIMS）；
2、辉光放电质谱（GDMS）；
3、激光烧蚀质谱（LA-MS）。
以上3种都是直接可以测固体样品的，但是我觉得 SIMS 可能最适合你。还可以看到样品深度和杂质分布的信息，比较适合表征异质结一类结构的界面信息。