请教一个问题：AFM 原子力显微镜所测的高度和 TEM 透射电镜所测的粒子大小有什么区别和联系？如果 AFM 测的是球形氧化铁纳米颗粒，那么测的高度只是球表面的高度吗？是否包括球形氧化铁纳米颗粒的直径？求解答，谢谢！

AFM 测试的粒子的高度是相对于支撑粒子基板平面的高度，SEM 和 TEM 都不能测量高度的。但粒子为球形是，这些粒子的直径（侧向尺寸）也就定于其高度，这个直径应该是绝对值。而 AFM 测出的高度是相对于基板的高度，如果基板表面平整，粒子没有变形的话，AFM 测出的高度与 TEM/SEM 测出的直径应该是相等的，或近似相等的。