请高手指点下。做 HRTEM 可以确定晶面间距等，做选区电子衍射可以判断是否为单晶，和确定晶面、晶向以及取向关系。
做 HRTEM 可以进行 FFT 转换，其结果和 SAED 效果差不多，只不过 HRTEM 的范围更小。

现在的疑问是：
做 HRTEM 时，做 SAED 有啥作用？
SAED 只能得出晶面和晶向信息，和高分辨有啥对照关系？
比如做 SAED 不知道电子束的入射方向，那么得出的晶面和晶向只是某一晶带轴指数的衍射斑点，这没有任何意义。
是不是做了 HRTEM 后做 SAED 时，电子束的方向必须和晶面有关系，必须和 HRTEM 形貌晶面垂直或者水平？这样才能和 HRTEM 相互印证。
此外，做 SAED 时，电子束的入射方向可以按照我们想要的方向入射么？比如使六方晶系从两个不同方向，[11-20] 方向和 [0001] 方向入射。

SAED 和高分辨是相辅相成的。
“任意角度入射都可以得到一个衍射图” 这句话没错，不过如果没有转到带轴上，衍射图会比较乱，而且测量出来的晶面间距，角度都会有误差。只有在晶体带轴方向拍出来的衍射图才是准确的。另外如果不用衍射的话，怎么来转样品拍到高分辨图呢？

补充一下：
1、转带轴双倾杆是最好的选择，否则你只能找一些恰巧单轴倾转就能转正的晶体。
2、转带轴未必要用菊池线，因为厚单晶样品才能产生菊池线，而很多纳米级颗粒无法用这个方法倾转。这时就要用衍射点的强弱来判断倾转方向，直到衍射点均匀对称的分布在透射斑点周围。只有转正了带轴，你的高分辨才会很“正点”。
3、不转正的衍射虽然对称性不佳，但勉强也能标定，不过如楼上所说，有可能会有误差，也因为衍射点的强弱不一致，无法很好的判定平行四边形法则中矢量的选取。
4、做 SAED 可以选择一些带轴，前提是倾转角度在样品台倾转极限值以内。一般的高分辨电镜普通双倾杆也就 ±30-40 度。你说的两个带轴正好夹角是 90 度，这个就只能找适合大角度倾转的电镜来做了。