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如何测量金属氧化物的粒径?
如何测量金属氧化物的粒径?
2019-04-02 来源:网络
关键字:XRD SEM TEM AFM SPM
问
请问有没有搞金属氧化的同学?我氧化了 Cu,上面形成了 2 层氧化物,Cu 的上面是氧化亚铜 Cu2O,再上面是 CuO。他们都是由 Cu2O 或者 CuO 的颗粒组成。我想要知道这个 CuO 和 Cu2O 颗粒的粒径,大家有什么好方法吗?
答
1、 Cu 在被氧化时根据温度区间的不同,表面成分和形貌会有很大区别,在一定的温度窗口内会生长 CuO 纳米线,所以几乎无法测量,只能通过控制温度来控制表面成分和形貌。有文献说,在300度以下,短时间内,表面只有 Cu2O,当亚铜层达到 400nm 以上时才会生长 CuO,所以在生长 CuO 之前可以用 SEM 测量亚铜层的晶粒,如果怕表面只是冰山一角,可以找个截面看看晶柱。CuO 的测量也差不多。
2、TEM 透射电镜,SEM 扫描电镜,AFM 原子力显微镜,SPM 扫描型探针显微镜,理论上应该可以,不过需要知道你样品的表面是不是单分子排布,有时候可能会是好几个颗粒组合的团,那样的话看到的只是形貌图像,尺寸可以量得!另外好像 XRD 可以分析出,CUO、CU2O的物相和晶胞大小!
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