看到 XRD 课件上有几个问题，特来请教！非常感谢！
1、粉晶样品通常开始扫描的角度？  
2、薄膜试样 X射线的入射角？
3、粉晶（多晶）衍射仪为什么要用粉末试样 ？

1、粉晶样品通常开始扫描的角度为 20°~90° 。
2、薄膜样品如果是多层膜结构的话，一般做小角度衍射 1°~6°；观察薄膜的调制结构，看薄膜结构的晶体结构的话，一般也做大角度衍射 20°~90°。
3、粉末样品是由许多取向不同的微晶杂乱无章的随机组成的，能够有足够多的晶体产生衍射。用粉末样品也是为了防止块状样品有择优取向。