场发射扫描电镜(SEM)
可以测试磁性样品
蔡司 Zeiss Sigma300/能谱牛津 30 Xplore
7个工作日
所在地区
  • 上海市
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检测范围

1.金属、非金属及复合材料的观察分析; 2.纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计; 3.微区成分的定性、定量计算,并对重点区域做元素分布图; 4.可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量; 5.机械设备、压力容器、管道及汽车零件的失效分析。

样品要求

导电性差的样品可喷铂金;粉末,块体都可以

仪器参数

分辨率:1.0nm@30kV STEM 
                1.0nm @15 kV  
                1.8nm @1kV
放大倍数:10-1,000,000×
加速电压:调整范围:0.02-30 kV(无需减速模式实现)
探针电流: 3pA~20nA(100nA选配)  稳定性优于 0.2%/h
低真空范围: 2-133Pa (Sigma 300VP可用)
样品室: 365 mm(φ),275mm(h)
样品台:5轴优中心全自动   
                 X=125mm
                 Y=125 mm
                 Z=50 mm
                 T=-10º-90º
                 R=360º 连续
系统控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制
存储分辨率:32k x 24k pixels

样品测试效果图

测试效果图 测试效果图 测试效果图

仪器特色&服务特色

可以测试磁性样品,请务必注明磁性强弱
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