扫描电镜SEM(SEM)
100-200
2个工作日
北京市
检测项目:
  • SEM
  • SEM+EDS
检测条件:
  • 形貌
  • 喷金
  • 常规
  • 液氮淬断
- +
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服务保障
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  • 品       牌: 日本电子株式会社 型       号: JSM-6510
  • 样品回收: 免费回寄 前置处理: 免费处理
  • 检测项目:
    SEM、SEM+EDS
  • 检测条件:
    形貌、喷金、常规、液氮淬断

检测范围

3nm

样品要求

样品形态:送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可
样品尺寸:样品高度小于15mm,直径小于30mm
特殊要求:样品应具有导电性。若样品不导电,需要进行喷金、碳等导电膜的处理;样品中不得含有水分,多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理。

仪器参数

JSM-6510规格
保证分辨率        3.0nm(30kV)
8.0nm(3kV)
15nm(1kV)
放大倍数        5至300,000x
1加速电压        0.5kV至30kV
电子枪        工厂预对中灯丝
聚光镜        变焦聚光镜
物镜        锥形物镜
样品台        全对中样品台
X-Y        80mm-40mm
Z        5mm至48mm
旋转        360°
倾斜        -10°至+90°
排气系统
(高真空模式)        DPx1,RPx1
排气系统
(低真空模式)        DPx1,RPx2

样品测试效果图

测试效果图

仪器特色&服务特色

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