场发射扫描电子显微镜

仪器型号 日本HITACHI SU8010
所属单位 浙江中医药大学
所在地区 浙江省
所属分类 分析仪器 · 电子光学
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仪器介绍

检测范围

SEM可观察样品表面、材料断口的微细形态结构;能谱仪可进行成分的常规微区分析:元素定量、定性成分分析,实时微区成分分析,快速多元素面扫描和线扫描分布测量。

仪器参数

加速电压为15kV时,分辨率1.0nm,加速电压为1kV时,分辨率1.3nm。配备EDAX 能谱仪。