扫描探针显微镜(Is improving)
清华大学
日本精工公司,SPI4000/SPA300HV
北京市
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检测范围

测试时,于挠性微悬臂先端的探针与试料表面微小作用力的接触,控制微悬臂的受力值,对探针与试料间的距离扫描控制,以分析试料表面形状。另外可区分为接触式 (DC mode) 与非接触式 (AC mode) 二种类型的 AFM。

仪器参数

测试区域大小范围区间为800nm*800nm~20mm*20mm,??最大施加电压为250V,样品表面粗糙度应小于500 nm。

仪器特色&服务特色

清华大学
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