扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
西北工业大学
德国蔡司公司,Zeiss supra55
陕西省
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检测范围

高分辨率电子成像,微区元素成分分析和晶体结构、织构、位向分析,原位加载实时分析

仪器参数

分辨率1nm,放大倍率12~1000000倍
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