场发射透射电子显微镜(FEG TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)
北京大学
FEI 公司,TECNAI F20
北京市
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仪器参数

点分辨率0.24nm,线分辨率0.102纳米,信息分辨率0.14nm,放大倍数25X-1050KX。

仪器特色&服务特色

“先进材料性能与结构演化间关系的现代表征方法及科学问题的研究”,培养了95名能独立上机操作的教师和学生;
每年度《电子显微学》课程实验,约60人,9课时。
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