原子力显微镜(Atomic force microscope)
合肥工业大学
Bruker Nano,Inc,Multimod,*
安徽省
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检测范围

研究固体材料表面结构

仪器参数

测量模式:接触模式,轻敲模式,横向力/摩擦力模式,相位成像(可通过相位变化来研究样品的相特性);扫描范围:10μm x 10μm x 2.5μm;噪声水平:≤0.3 ?;可持续稳定得到原子级分辨率;配备CCD光学辅助观察系统;具有防震台;配备各种模式的探针;具有良好的升级和拓展能力。

仪器特色&服务特色

运用于有机电子材料和器件的表征,发表一区论文10余篇
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