扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscopy)
中国矿业大学(徐州)
美国FEI,Quanta 250
江苏省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

SEI图像模式;BEI图像模式;X射线显微分析模式; 真空转换:高真空/低真空/超低真空

仪器参数

放大倍数:6x~1,000,000X;高真空分辨率:≤3.0nm @30kV(SE);低真空≤3.0nm @30kV(SE)环境真空≤3.5nm@30kV(SE)
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