场发射分析型透射电子显微镜(Field emission transmission electron microscope)
浙江大学
日本,2100F 场发射,点分辨率0.19 nm,晶格分辨率0.10 nm
浙江省
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分析仪器

检测范围

TEM像、高分辨像、STEM像、选区电子衍射、HAADF像、暗场像、微区元素成分

仪器参数

点分辨率:0.19 nm; 晶格分辨率:0.10 nm; 扫描透射晶格分辨率:0.2 nm ;能谱能量分辨率:136 eV。
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