检测范围
扫描探针显微镜主要用于纳米材料形貌观察,蚀刻,操纵以及性能测试,是一种多功能模块化的纳米范围加工和测量精密仪器;多功能可控环境扫描探针显微镜可在大气和可控环境(温度,真空度,不同气氛,液体及电化学)条件下进行一维单根纳米材料原子观测,对样品微区进行形貌及物理特性得
仪器参数
1.AFM/FFMMICA表面测定
可以看到云母的原子周期像
(确认在FFT处理后的六角模型)2.DFM/PhaseTi薄膜的测定可以看到50nm以下Ti粒子像
;3.STMHOPG表面的测定
可以看到HOPG的原子周期像
(确认在FFT处理后的六角模型);4.KFM形貌像和电位像同时测定
,在Au/Poly-Si试样上测定,电位分
辨率在5mV以下
;5.MFM
测量硬盘表面确定磁畴
;6.AFM/电流纳米刻蚀功能
在Si单晶表面上刻上"SII"字样
仪器特色&服务特色
提高大型设备使用率，为高质量科研成果的发表提供技术支撑
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