透射式电子显微镜(TEM)
中南民族大学
FEI公司,TECNAI G2 20 S-TWIN
湖北省
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分析仪器

检测范围

材料的形貌观察,高分辨电子显微分析,选区电子衍射,配合特征X射线能谱进行纳米尺度成份分析

仪器参数

"放大倍数 :25x - 1000000x
样品最大倾角:+/-45°(单倾杆最大倾角+/-40°;双倾杆最大倾角+/- 45°)
分辨率: 0.248nm(点),0.144 nm(线)"

仪器特色&服务特色

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