X射线衍射仪(XRD)
西北民族大学
荷兰帕纳科公司,PW3040/60
甘肃省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

主要应用于样品的物相定性或定量分析、晶体结构分析、材料的结构宏观应力的测定、 晶粒大小测定、结晶度测定等。

仪器参数

射线源:Cu靶;2θ角扫描范围:0.2~150o;测角仪精确度:0.001o。Anton Paar TCU 750原位样品室控温范围:室温至900℃,控制精度:0.1℃。
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