透射电子显微镜(无)
同济大学
JEOL,JEM-2100|| ||200KV加速电压,LaBb灯丝
上海市
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分析仪器

检测范围

功能:对纳米材料的形貌以及电子衍射结构进行测量 应用范围: (1) 各种材料的透射像观察 (2) 高分辨图像观察 (3) 选区电子衍射结构分析

仪器参数

1.电子枪:LaB6(六硼化镧);
2.点分辨率:0.23 nm;
3.线分辨率:0.14 nm;
4.加速电压:200kV;
5.束斑尺寸:1.0-25 nm;
6.放大倍数(高倍):2000-1,500,000;
7.放大倍数(低倍):50-6,000;
8.倾斜角:±35o。
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