扫描探针显微镜(scanning probe microscope)
赣南师范学院
美国Bruker Nano Inc,MultiMode
江西省
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检测范围

可用于测量聚合物薄膜表面形貌、纳米结构等;研究聚合物的纳米力学性能;多组份体系的表面组成;近表面结构;导电性、摩擦力、磁性等,可原位观察薄膜在温度场(高、低温)中的结晶、相分离等动力学过程。

仪器参数

侧向分辨率可达到2 nm,垂直分辨率小于1 nm。 两个扫描器的扫描范围为20 ?m和150 ?m,控温范围-70oC-800oC
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