检测范围
ESEM可在高真空、低真空和环境等三种工作方式下工作，可在很低真空的方式下对多孔隙材料与薄膜表面、经化学修饰后的微粒的吸附现象、关节与人工关节样品等进行观察分析并配有最新的X射线能谱仪、超微操纵及注射系统、冷台及热台。
仪器参数
1.分辨率：二次电子成像
高真空模式：30KV时＜2.0nm
低真空模式：3 KV时＜3.5 nm
ESEM环境真空模式：30KV时＜2.0nm
2.放大倍数：
高真空模式：12X～1,000,000X
低真空模式：12X～1,000,000X
加速电压：200V～30KV
样品室真空: ＜6 x10 ～ 4000Pa
3.扩展附件：
冷台：0～10℃时，可对样品在不同相对湿度(0～100%)下的状态进行
观察和分析。制冷温度最低可达-20℃，控制精度可到0.1℃
加热样品台：温
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