场发射扫描电子显微镜
华北理工大学
日本日立,S-4800
河北省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

1.景深大,图像呈三维立体效果,能够提供比其他显微镜更多的有价值的信息; 2.能直接观察大样品的原始表面,样品制作简单; 3.利用X射线能谱仪可在对样品进行形貌观察的同时,对观察到的某区域或某点进行成分分析。

仪器参数

1.二次电子分辨率:1.4nm(1kV,减速模式),1.0nm(15kV); 2.电子枪:冷场发射电子源; 3.加速电压:0.5-30kV; 4.放大倍率:20-80万倍。
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