场发射扫描式电子显微镜(SEM)
西南民族大学
日本电子,*-JEOL-JSM-7500
四川省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

使用密集电子束对样品表面进行扫描,再将接收到的信号转换为灰度值数据并显示在屏幕上,用于查看材料的形貌,大小,分布

仪器参数

1.分辨率:1.0nm(15kV)/1.4nm(1kV)
2.加速电压:0.1KV-30kV
3.放大倍数:25-100万倍
4.样品室尺寸:最大200mm直径样品
5.束流强度:10-13到2X10-9
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