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半导体参数测试系统(Semiconductor Parametric Test System)
所在单位：	兰州大学
品牌/型号：	森美协尔国际有限公司，keithley 4200-SCS
所在地区：	甘肃省
仪器说明：	我们目前尚未与兰州大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

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仪器介绍

仪器参数

SMU电流测量范围/精度/分辨率优于100fA-100mA/30pA/100fA，电压范围200V-1uV；PA电流分辨率0.1fA；电压测量精度优于100 uV；系统最小脉冲发生器宽度优于10ns；且可以输出任意波形；系统脉冲I-V模式最短时间优于60ns@10V， 140ns@40V；C-V模块频率范围优于1KHz-10MHz

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