场发射透射电镜系统(Field emission transmission electron microscope)
西南科技大学
德国Carl zeissNTS GmbH,Zeiss Libra 200FE
四川省
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检测范围

1.研究材料的微观形貌、晶体结构、微区成分;材料界面、晶体缺陷、晶格像、结构像及纳米结构材料。 2.观察动、植物组织,细胞内部的超微结构以及微生物和生物大分子的形貌。

仪器参数

1.点分辨率:≤0.24nm;信息分辨率:≤0.14nm;能量分辨率: ≤0.7eV;
2.最小放大倍数: 80×
最大放大倍数: 1,000,000×;
3.样品移动  X:≥2mm;Y: ≥2mm;Z:≥±0.2mm (最高可以达到±0.4mm) ;
4.最大倾斜角:α= ±30°;β=±30°。
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