透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope)
中国船舶重工集团公司第七二五研究所厦门材料研究院
日本电子,JEM-2100
福建省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

可用于材料的微观结构分析,包括普通透射(形貌观察)、高分辨透射(形貌观察)、选区电子衍射(晶体结构分析)等

仪器参数

1.点分辨率:0.23nm;
2.加速电压:200kV;
3.放大倍数:2000-1500000x。
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