超大规模集成电路测试系统(J750 512 CHANNEL TEST SYSTEM)
上海华岭集成电路技术股份有限公司
泰瑞达,J750EX
上海市
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检测范围

用于测试数字逻辑芯片、高速高精度转换器、片上系统SoC芯片等产品,覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品

仪器参数

数字板:测试通道512测试频率200MHzLVM:64MDPS:32DSMTO:2
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