x-光织构极图分析仪(x-ray pole figure texture analyzer)

仪器型号 荷兰帕纳科公司 X pertPro
所属单位 上海大学
所在地区 上海市
所属分类 分析仪器
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仪器介绍

检测范围

薄膜及粉末样品的XRD分析

仪器参数

χ射线发生器:最大功率:3kw (45KV X50mA );测角仪: 角度重现性:±0.0001°; 2θ范围:0~167°;精度:0.0025° ;分辨率:0.037°;最小步长:0.0001°探测器:99%线性范围1×106cps,最大背景≤0.2cps ;