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X射线荧光光谱仪(X-ray fluorescence spectrometer)
上海太阳能工程技术研究中心有限公司
Ultra，UTX850B
上海市
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检测范围

镀层测厚，纯度分析，合金成分分析，镀液分析及工业废水有害元素定量分析

仪器参数

探测元素范围：13号Al～92号U；镀层厚度分析范围0.01～35um，最大测试层数7层；镀液分析范围1ppm~99.99%，精度优于5％
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