扫描电子显微镜(SEM(Scanning Electron Microscope))
上海华测先越材料技术有限公司
FEI,Inspect S50
上海市
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检测范围

观察金属等固体材料表面宏观、微观形貌,测量微小尺寸及能谱分析等

仪器参数

最高分辨率3nm;工作模式:HV(高真空),LV(低真空) 放大倍率:13~1000000 最大扫描像素:4096X3536
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