检测范围
物理方面： 测量顺磁体的磁化率； 金属或半导体中的传导电子； 固体中的某些局部晶格缺陷； 辐照损伤和辐照效应；磁性薄膜的研究； 纳米材料；半导体材料中掺杂对半导体性能的影响等。
化学方面： 研究氧化还原反应过程中电荷转移情况；g或紫外辐照短寿命的有机自由基的性质
样品要求
【送样须知】
检测项目： 常规测量
不可测试样品： 含偶数个电子弛豫短的金属离子，介电常数大的大维度样品；
可测样品送样要求： 固体、液体和维度合适的片状样品；
样品需提供的信息： 注明样品基本元素组成，结构信息。
检测项目： 110k或350k~110k变温
不可测试样品： 样品维度大于10*2*1mm样品；
可测样品送样要求： 固体、液体和薄膜样品；
样品需提供的信息： 样品满8个方可测量，注明样品基本元素组成，结构信息，测量温度范围（常规默认低温：110k）。
检测项目： 磁各向异性
不可测试样品： 样品维度大于3*3*1mm样品；
可测样品送样要求： 单晶、薄膜样品；
样品需提供的信息： 注明样品基本元素组成，结构信息，样品特定方向或需测量平面。
仪器参数
【主要技术指标】
两个微波频段，变温附件（100K-350K）， 配备适合不同样品测量用的多种谐振腔。
【仪器功能及附件】
两个微波频段，变温附件（100K-350K）， 配备适合不同样品测量用的多种谐振腔。
分享