椭偏仪 椭圆偏振光谱仪(Ellipsometer)
日本HORIBA UVISEL
2个工作日
所在地区
  • 广东省
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检测范围

偏振光在介质的表面反射时,其偏振状态将发生变化,通过测量这些变化并建模分析,可以获得介质材料的光学常数和结构参数信息。 可应用于:光电子、冶金、纳米材料、高分子薄膜、生物化学等领域。 ● 光学常数测量,包括折射率n、消光系数k、复数介电函数ε、透过率T、反射率R等 ● 多层膜、多孔材料、高分子薄膜等特殊结构分析 ● 各类薄膜、界面层的膜厚、表面粗糙度测量 ● 薄膜禁带宽度、激子束缚能测量 ● 材料各向异性分析

样品要求

仪器参数

● 高精度,可用于检测超薄薄膜(nm)
● 无损检测,无需制样
● 无盲区(Ψ=0-90°, Δ=0-360°)
● 光谱范围 :210-880nm
● 适用于透明、半透明的碎片或2、4、6英寸薄膜

样品测试效果图

测试效果图 测试效果图

仪器特色&服务特色

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