场发射透射电镜 HRTEM(TEM)
FEI Tecnai G2 F30
15个工作日
所在地区
  • 上海市
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检测范围

放大倍数(高倍):2000~1,500,000; 能谱仪能量分辨率(MnK):优于136eV 分析元素:5B~92U

样品要求

粉末提供5mg以上,液体5ml

仪器参数

信息分辨率极限 U-TWIN 0.10nm ;S-TWIN 0.14nm
·点分辨率 U-TWIN 0.17nm ;S-TWIN 0.20nm
·高分辨STEM分辨率 U-TWIN 0.14nm ;S-TWIN 0.19nm
·样品zui大倾角 S-TWIN +/- 40°
主要特点
·高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析
·所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、 STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和 图、全息技术和Lorentz透镜技术
·强样品穿透能力
·zui佳性能的能量过滤透射电镜和电子能量损失谱分析
·超稳定的聚焦、高压、能量色散、束斑、对中和样品 台

样品测试效果图

测试效果图 测试效果图 测试效果图 测试效果图

仪器特色&服务特色

专业、高效是我们的服务宗旨
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