仪器介绍
样品要求
检测范围
仪器可以提供半薄、超薄的常温和冷冻切片的样品,以及进行样品表面光滑处理,为光学显微镜、透射电镜、扫描电镜及原子力显微镜提供超薄切片样品
仪器参数
高精度切片厚度: 1nm-15μm
速度: 0.05-100mm/sec
进刀步程: 1nm-15μm
回刀速度: 10-50mm/sec
工作温度范围:常温;-15℃~-185℃
速度: 0.05-100mm/sec
进刀步程: 1nm-15μm
回刀速度: 10-50mm/sec
工作温度范围:常温;-15℃~-185℃
样品要求
硬质块体样品(非金属)、薄膜样品