[云现场]场发射扫描电镜（SEM）

1.金属、非金属及复合材料的观察分析；
2.纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计；
3.微区成分的定性、定量计算，并对重点区域做元素分布图；
4.可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量；
5.机械设备、压力容器、管道及汽车零件的失效分析。

分辨率：1.0nm@30kV STEM
        1.0nm @15 kV
        1.8nm @1kV
放大倍数：10-1,000,000×
加速电压：调整范围：0.02-30 kV（无需减速模式实现）
探针电流： 3pA～20nA（100nA选配） 稳定性优于 0.2%/h
低真空范围： 2-133Pa （Sigma 300VP可用）
样品室： 365 mm（φ），275mm（h）
样品台：5轴优中心全自动
        X=125mm
        Y=125 mm
        Z=50 mm
        T=-10º-90º
        R=360º 连续
系统控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系统，可选鼠标、键盘、控制面板控制
存储分辨率：32k x 24k pixels

可以测试磁性样品，请务必注明磁性强弱