广泛应用于材料形貌表征，力学性能表征，表面导电性能分析、表面磁性分析等领域。 ● 外延薄膜原子台阶形貌扫描 ● 纳米材料形貌表征 ● 纳米压印 ● PSS形貌扫描 ● 材料表面粗糙度、粘滞性、导电性以及磁性测试

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光显微镜的特点，就是将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射性（各向同性）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特征。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、高分子、纤维、玻璃、半导体、化学等领域。在生物学中，很多结构也具有双折射性，可利用偏光显微镜加以区分。在植物学方面，如鉴别纤维、染色体、纺锤丝、淀粉粒、细胞壁以及细胞质与组织中是否含有晶体等。在植物病理上，病菌的入侵，常引起组织内化学性质的改变，可以偏光显微术进行鉴别。

1. 块状样品：将块状样品的一面抛光或制成0.3mm厚度的薄片；
2. 粉末样品：将粉末样品磨细，与溶剂混合分散，滴在载玻片上制成样片。

主要功能：接触模式，轻敲模式，智能扫描模式，磁力模式，静电力模式，液体环境测试，加热冷冻环境测试等。 应用范围：AFM测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等，可以观察样品的表面形貌，粗糙度，导电性，磁力性质，机械力学性质等。

粉末要求5mg以上；片状样品0.5cm左右，表面要平整，有固定形状

如果样品需要帮忙前处理、抛光，单独收制样费用

专业检测科研机构

观察各种金属及合金的组织结构、形貌、夹杂、形态统计和分析、表面镀层质量、厚度、芯片的结构、渗透组织和深度等；清晰显示材料内部组织构造；应用于工厂或实验室进行材料质量鉴定、失效分析，原材料的检验或对材料处理后金相组织

经抛光—腐蚀后，样品表面无划痕、无损伤层、平整度高，无污染物。

Nikon MA200，ECLIPSE MA200为新一代产品，是EPIPHOT TME300/200型金相显微镜的后继机种，支持明场、暗场、微分干涉、荧光、简易偏光等观察方式，具有结构紧凑、操作方便、照明均匀、成象清晰、节能省电、坚固耐用等特点。