X射线光电子能谱仪
服 务 商：
在研实验室
检测范围：
该仪器可以分析固体材料表面元素成分及价态的定性、半定量分析。化学组成、化学元素相、化学价态、价带结构、晶体结构分析及深度剖析。可进行金属、合金中夹杂物成分分析，炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中深度分布分析等，能给出逐层元素变化的具体信息（包括价态、含量、分布及元素的图像）。适合于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体、粉末、薄膜等。表面和界面1-10nm的化学信息。可以一次分析除氢、氦以外所有原子百分比（at%）大于0.1%的元素，并可以对元素相对含量进行半定量分析（准确度约10%）
主要原理：利用光电效应的原理，测量辐射源（光子、电子、离子等）从样品上打出来的光电子的动能、强度及其角分布，从而研究原子、分子、聚集相。
样品要求：
元素的原子百分含量不得低于1%
（a） 样品分析面确保不受污染，可使用乙醇，异丙醇，丙酮，正己烷，或三氯甲烷溶液（均为分析纯）清洗，并进行充分干燥；
（b） 尽量使用玻璃制品（如表面皿、称量瓶等）或者铝箔盛放样品，尤其对于易产生静电的粉末样品，避免使用塑料制品容器盛放；
（c） 请勿用记号笔在样品袋上标记，以防污染样品；
（d） 制备或处理样品时须使用聚乙烯手套，禁止使用手、工具等以免污染样品表面；
1、 固体薄膜或块状固体样品：要求测试面成分分布均匀。
对于非磁性样品：大小控制在3mm×3mm以内（最小边大于2mm）；厚度小于2mm；保证样品双面平整；
对于磁性样品（特指可被吸铁石吸起的样品，如钢板、铁片等）：要求样品导电性良好，样品大小制成10mm×10mm，厚度小于0.5mm，呈薄片状；保证样品双面平整，并用记号笔在背面打×做标记；
2、 粉末样品：样品成分均匀；粉末样品最好压片（直径小于3mm），如无法成形，样品研细，且不少于0.3g；
服务特色：
提供数据分析及分峰拟合教程，可提供.txt及.vms两种数据格式，默认发.txt。
