高分辨X射线衍射仪
服 务 商：
半导体测试中心
检测范围：
设备广泛应用于物理学、化学、地矿学、药学、冶金学、高分子科学、环保、考古、生命科学以及材料科学等领域。
● 粉末样品的物相定性与定量分析
● 薄膜样品X射线分析，包括薄膜物相、摇摆曲线、倒易空间图等
● 计算结晶度、晶粒大小、晶胞参数精确测定
● 确定晶系、晶粒大小、畸变和微观应变测量
● Rietveld定量分析
● 薄膜反射率测试、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
● 小角散射与纳米材料粒径分布
● 微区样品以及单晶样品的分析
样品要求：
块状样品较平整，粉末样品颗粒较细腻即可
织构要求样品为片状，厚度8mm以内，长宽10-20mm之间
服务特色：
1.测试队伍经验丰富，专业技能过硬
2.设备先进、性能稳定，可7天24小时运转
3.提供材料器件一站式测试服务，包括：结构测试、形貌表征、光学性能测试、电学性能测试，以及可靠性检测等
4.反馈迅速，测试周期短，常规测试当天出结果
5.提供准确的、同行认可的测试结果，以及专业的分析报告
