设备广泛应用于物理学、化学、地矿学、药学、冶金学、高分子科学、环保、考古、生命科学以及材料科学等领域。 ● 粉末样品的物相定性与定量分析 ● 薄膜样品X射线分析，包括薄膜物相、摇摆曲线、倒易空间图等 ● 计算结晶度、晶粒大小、晶胞参数精确测定 ● 确定晶系、晶粒大小、畸变和微观应变测量 ● Rietveld定量分析 ● 薄膜反射率测试、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 ● 小角散射与纳米材料粒径分布 ● 微区样品以及单晶样品的分析

块状样品较平整，粉末样品颗粒较细腻即可
块状样品厚度3mm以内，超过3mm联系客服确认价格

1.测试队伍经验丰富，专业技能过硬
2.设备先进、性能稳定，可7天24小时运转
3.提供材料器件一站式测试服务，包括：结构测试、形貌表征、光学性能测试、电学性能测试，以及可靠性检测等
4.反馈迅速，测试周期短，常规测试当天出结果
5.提供准确的、同行认可的测试结果，以及专业的分析报告

元素测试范围：8O ～ 92U； X射线管4KW薄窗、Rh靶；局部分析功能分析直径500μm

粉末样品500mg以上

晶体尺寸0.05mm以上，单胞体积10000以内。收录数据以4小时为单位计费，如果超时会进行提醒，是否继续收录

符合单晶尺寸测试要求，三维尺寸不应小于0.05mm，丝、薄片不一定能测。无法测试退款方案具体咨询。

目前只测常温Mo靶，暂不测高低温。加急样品需事先确认，收50%加急费用

高温xrd（室温-1600℃）；精度高： 5轴样品台、4晶单色器

粉末，薄膜，块体均可

高温xrd（室温-1600℃）；粉末， 薄膜的2theta、摇摆w、phi、psi扫描等，以及掠入射反射xrr鉴定薄膜厚度测试等。

XPS因其独有的元素化学态识别功能，广泛应用于固体物理学、材料科学、基础化学、催化科学、腐蚀科学、微电子技术、半导体、新能源等各个领域的材料与器件的检测分析。

1.        样品为固体，无腐蚀性、无毒性、无挥发性、无放射性。
2.        样品含有硫或碘等卤族元素请务必填写或者提前告知，避免污染高真空系统。
3.        样品在超高真空及在X射线、紫外线、电子束或Ar离子束照射下应稳定，不分解、不释放气体。
4.        样品重量、尺寸要求：
        粉末样品不少于10 mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。
        块状/片状/薄膜：长宽厚不超出5mm × 5mm × 3 mm（磁性样品尽量小），超出此范围请提前联系，可能会酌情收取制样费。
        UPS样品尺寸不小于1 cm × 1 cm。
5.        样品数量多的，请务必编号，并拍照。
6.        对块状样品或薄膜样品的测试面做好标记，并拍照。
7.        测不了H和He元素，其他元素都可以测。
8.        强磁性样品可能无法测得主要元素的信号峰，或者信号较弱。一般含有铁、钴、镍、锰成分的样品，若不提前告知，默认按磁性样品进行退磁处理后再进样！
9.        含量低于5%的元素请务必注明。元素分布不均或者质量分数小于2%的元素可能测不出明显信号，不保证测试会出峰，因为含量太低。
10.        元素窄谱测试如有特殊要求请备注，没特殊说明默认测最强峰；若最强峰和其他元素的峰有重叠，默认测次强峰。如果需要增加扫描次数，请提前联系。
11.        计算元素数量时，不计算碳元素。同一元素如需测试多个轨道峰，请务必写出，并算作多个元素。
12.        样品应充分干燥。高分子样品在送样前应进行干燥处理。若含有高挥发性分子等请务必烘烤抽除。若需要我们干燥处理，请提前联系，将加收制样费。
13.        请勿用手触摸样品表面，会引入污染。制好样后请尽快密封，避免其他物质污染。
14.        XPS测试需要用导电双面胶把样品固定在样品上，测试过的粉末样品没法回收，块体样品回收可能会受到污染或者破坏，不保证样品完好，特别建议尽量不回收样品！
15.        关于测试结果的提供形式，默认只提供原始数据：VGP、EXCEL格式，未校准，未定量，未分峰。如有数据分析等其它需求，请提前联系，可能会酌情收取部分费用。
16.        测试周期: 收到样品后3~5工作日。如果需要加急，根据实际情况酌情加收50%~100%的加急费。

专业测试人员、快速测试速度，保证测试质量