[云现场]场发射扫描电镜（SEM）

蔡司Sigma 360扫描电子显微镜因其高分辨成像与多模式分析能力，广泛应用于材料科学、新能源、半导体、地质学、生物学、及工业生产质量控制等领域。

材料表面纳米级微观形貌的高分辨成像观察

二次电子成像，获取形貌衬度信息

背散射电子成像，获取成分衬度信息

微区元素组成定性分析与半定量分析（结合EDS能谱仪）

微区元素含量及分布的面扫描、线扫描、点扫描分析

材料断口分析与失效分析，研究断裂机理与微观缺陷

纳米颗粒的粒径测量与形貌表征

分辨率：二次电子分辨率 0.7 nm @ 15 kV，1.1 nm @ 1 kV

放大倍数：20×～1,000,000×，连续可调

加速电压：20 V～30 kV，步进10 V连续可调

电子枪：肖特基热场发射电子枪

最大探针电流：20 nA，稳定性优于0.2%/h

光阑：7孔电磁切换光阑

镜筒：具有电子束推进器，保证超低加速电压下获得小束斑和高信噪比

样品室尺寸：内部直径365 mm，高度275 mm

样品台：五轴电动优中心样品台，移动范围X≥125 mm，Y≥125 mm，Z≥100 mm，倾斜-20°～+90°，旋转360°连续

最大样品尺寸：直径不超过179 mm（标准），XY平面内可全部观察到直径235 mm样品

最大载样品重量：500 g

配备布鲁克能谱仪，可进行样品表层微区点、线、面元素定性、半定量分析

腾讯会议视频，实时观看样品真实情况。可以测试磁性样品，请务必注明磁性强弱