关于透射电镜测试晶体的疑问
求助，我是刚开始搞金属的菜鸟。最近正在为做 TEM 实验做准备，现在有几个问题，希望大家能帮忙解答一下。 1、如何判定一个位错是否为超位错？只看形貌像是不是和普通位错差不多？书上有关于普通位错和不全位错的 g.b 表，可以根据相关的位错消光原理查表求b，但是唯独没有见过超位错的 g.b 表？没有表咋...
技术文章
检测知识、样品制备、仪器使用技巧等技术干货
XRF、EDS、XPS、ICP 有什么区别？
样品是一个块体，要做样品各个成分的定量分析 XRF、EDS、XPS、ICP 哪一种方法更好，能更准确地分析含量？ 请高手出来指教一下哈！ EDS 是可以做成分分析，但做的是微区的成分分析，而且是半定量的，而微区的成分分析结果不可能代表你的块体。 半定量准确性比定量分析稍差，而且检测极限有点高！如...
TEM 能标记颜色区分两种纳米粒子吗？
本人做碳材料载体上负载两种金属纳米粒子，想用 HRTEM 看看做的纳米粒子大小及分布怎么样，请问测试时两种金属能否用颜色标记来区分呢？ TEM 没法上色，只能后期处理图片。 如果两种金属的衬度明显不同，用PS就能做到，可以自己根据结果后期来标记处理吧。 如果衬度相似的话，就很缺乏说服力了。 楼主...
测试电导率时的温度补偿是什么？
测液之电导率为该液体标准温度（25℃）时之电导率（温度自动补偿）。 说明：一般情况下，所指液体电导率是指该液体介质标准温度（25℃）时之电导率。当介质温度不在25℃时，其液体电导率会有一个变量。为等效消除这个变量，仪器设置了温度补偿功能。 仪器不采用温度补偿时，测得液体电导率为该液体在其测量时液体温...
测样品中含有哪种化合物用什么仪器？
样品中如果有 Ag2O 和 Ag3PO4，那 XPS 数据中能看出来么？ XPS 是测元素和价态的，所以测的结果并不能表明是哪个化合物，只能说明有什么元素和是几价的元素。你要测化合物定性，那用 XRD 就行了。
孔隙率要怎么测定？
怎么测密度较小（约 0.3g/cm3 左右）的复合材料的孔隙率？ 1、其实看什么材料。 如果是块体材料，其气孔可能有两种：开口气孔和闭口气孔。 开口气孔，我们可以通过表观密度测试出来； 闭口气孔比较麻烦，先要测试真密度，然后才能测试闭口气孔率。 参考下无机材料测试手册。 2、如果知道密度（表观密...
小角XRD衍射和小角XRD散射的区别
在测试有序介孔材料时，用小角衍射和散射得到的信息一样么？二者有什么区别呢？ 小角X射线衍射 (Small angle x-ray diffraction)，缩写是 SAXD 。 小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering)，缩写是 SAXS 。 二者的原理还是有很大的...
原子力显微镜能看到颗粒的大小吗？
AFM 测试能看到样品（薄膜）的颗粒大小吗？ 1、当然没有问题。颗粒多小都能看到，取决于原子力针尖和仪器本身的精度，最小到 nm 甚至原子级，要不怎么叫原子力显微镜呢？ 2、那要看你颗粒的大小了。通常 AFM 的纵向的分辨率比较高，能分辨几个纳米的高度差别。水平的大小能做到几十个纳米还有清晰图像的...
粉晶样品和薄膜试样 XRD 相关问题
看到 XRD 课件上有几个问题，特来请教！非常感谢！ 1、粉晶样品通常开始扫描的角度？ 2、薄膜试样 X射线的入射角？ 3、粉晶（多晶）衍射仪为什么要用粉末试样 ？ 2019/0403/8d9d4c2f_1554276219_852.jpg 1、粉晶样品通常开始扫描的角度为 20°~90° ...
文献上的颗粒排列整齐的 TEM 照片是如何做出来的？
经常在 JACS 等期刊上看到文章里面的 TEM 非常漂亮（如图），纳米颗粒排列整齐，不团聚。 我做的是磁性纳米颗粒，从来都是团聚的很厉害，那种照片的制样方法，是树脂包埋还是人家就是做得好？ 希望版上的大侠能告知小弟，不胜感激！ 2019/0402/8d9d4c2f_1554193909_966.p...