AAA暂态模拟器测试系统(photovoltaic IV curve measuring system)
宁夏新能源研究院(有限公司)新能源实验检测中心
H.A.L.M,Halm Cetis PV-XF2-M
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检测范围

可做IEC61215和IEC61646及其他标准的光学测定:最大功率确定、标准测试条件和标称工作温度下的性能、低辐照度下的性能

仪器参数

主要参数特性如下: ◎ 光谱匹配度:0.75-1.25(A级) ◎ 不均匀度:<±1%(A级标准±2%) ◎ 瞬时不稳定度:<±0.5%(A级) ◎ 最大采点速度:≥10μs/点 ◎ 红外组件温度监控装置精度:≤0.5℃ ◎ 最大有效辐照面积:≥2.4m×1.5m ◎ 多次闪光的重复性:<±0.5% ◎ IVT测量分辨率:16位 ◎ 辐照度调整范围:100~1100W/m2

仪器特色&服务特色

应客户检测需求
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