扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
武汉工程大学
Jeol公司,JSW-5510LV
湖北省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

用于各类样品微区的表面形貌观察和分析。

仪器参数

分辨率:4.5nm;
放大倍数:
18~300,000倍;
加速电压:500V~30kV。
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