钨灯丝扫描电子显微镜(Tungsten filament SEM)
天津大学
日本日立公司,日立SU-1510
天津市
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检测范围

获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。

仪器参数

二次电子分辨率 3.0nm 高真空背散射电子分辨率4.0nm加速电压 0.3-30KV预对中钨灯丝
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