半导体光致发光成像分析系统(Semiconductor photoluminescence imaging analysis system)
南昌大学
匈牙利瑟米莱伯公司,PLI-1001
江西省
我们目前尚未与南昌大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障:

检测范围

对硅块、硅片、绒面、扩散、刻蚀、电极印刷、电池片等各工艺进行检测。

仪器参数

全自动,检测速度快(>3600wfr/h),图像质量好,低噪声,高分辨率,可用少子寿命检测标定,可检测硅片、电池片成品或半成品。
如果找不到合适的仪器,您可以提交您的需求,由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求