场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
上海交通大学
FEI Company, USA,Nova NanoSEM 450
上海市
我们目前尚未与上海交通大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障:

所有仪器

分析仪器

检测范围

用于测定各种无机物、有机物的晶体结构,可以获得晶胞参数、键长、键角、构象、氢键、分子间堆积作用等信息。

仪器参数

1、CCD探头无束锥,1:1耦合。 2、映象面积62 mm#215;62 mm,4 K CCD芯片,分辨率高:15 μm#215;15 μm,量子效率170电子/X光子(Mo),暗流低(0.1el/pix.sec)。 3、芯片有四个寄存器输出通道口。 4、APEX CCD井深3.2#215;107个电子,20位动态范围,有利收集强反射而不溢出。 5、磷光膜可同时使用于Mo和Cu靶光源,Mo、Cu光源互换简便。

仪器特色&服务特色

SCI论文数据支撑
如果找不到合适的仪器,您可以提交您的需求,由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求