光源热特性测试仪
中国计量学院
MENTOR GRAPHICS,T3STER/MICRED
浙江省
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检测范围

用来测试封装好的半导体器件(组件)的分层热阻,可测试其热通道上的每一物理层的热阻和热容。

仪器参数

提供静态空气测试环境;极其精准的温度测量结果(0.01° C) 和测试精度达到1微秒
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