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高分辨透射电镜
北京工业大学
日本电子，JEOL2010**200KV
北京市
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检测范围

对各种材料的物质表面及内部进行形貌观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、定量及半定量的微区分析，广泛应用于高分子材料、催化剂、润滑材料、地质矿物、金属沙漠、生物医学等方面。

仪器参数

点分辨率: 0.19nm。放大倍数:×50-×1500,000。
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