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场发射透射显微镜
所在单位：	北京工业大学
品牌/型号：	日本电子，JEOL-2010F**200KV
所在地区：	北京市
仪器说明：	我们目前尚未与北京工业大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

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2010F是涵盖能量过滤，场发射分析的TEM/STEM仪器，并带有HAADF STEM，它利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5纳米的物质进行结构和成分分析，元素分析范围为硼(B5)～铀(U92)，因而特别适用于普通电镜难以分辨的微细析出相、界面、畴等极细小区内成份、结构

点分辨率：0.19 nm。最大倾转角：X＝±35°，Y＝±30° 。最小束斑尺寸： 0.5nm。

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