数字化成象装置(CCD)
北京工业大学
美国GATAN公司,832.20B
北京市
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检测范围

用于记录透射电镜图像及衍射谱。

仪器参数

利用面间距为0.23nm的多晶金试样进行高倍率校正,利用间距为0.463um的Grating试样进行低倍率校正,能得出清晰的数码照片。
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