ABM光刻机/曝光机
中国科学院力学研究所
ABM公司,ABM/6/350/NUV/DCCD/BSV/M
北京市
我们目前尚未与中国科学院力学研究所提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障:

检测范围

通过光学系统以投影方法将掩模版上的图形转移到涂有光刻胶的晶圆上,晶圆表面会留下带有微图形结构的薄膜。

仪器参数

接触式曝光方式线条宽度为 0.6微米,间接式曝光方式线条宽度为 1.0微米,厚胶光刻特征尺寸为100-300微米,正面对准精度≤ ±1微米,背面对准精度≤ ±2微米。
如果找不到合适的仪器,您可以提交您的需求,由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求