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JEM-2010 高分辨透射电子显微镜(JEM-2010 High Resolution Transmission Electron Microscopy)
所在单位：	中国科学技术大学
品牌/型号：	日本电子株式会社，JEM-2010
所在地区：	安徽省
仪器说明：	我们目前尚未与中国科学技术大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

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?物相鉴定：采用电子衍射花样和电子显微图像相结合的方法，对未知物相进行研究判定。 ?材料显微结构的表征：如材料的形貌、尺度、晶界、相界、孪晶、层错、位错、取向关系等。在一定条件下，可获得材料相变过程及显微结构变化的信息。?物相鉴定：采用电子衍射花样和电子显

电子束加速电压：200kV
点分辨率：0.23nm
线分辨率：0.14nm
真空度：优于2*10-5Pa

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